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    公示

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    科技成果轉(zhuǎn)化公示〔2024〕15號(hào)——復(fù)合材料表面缺陷光學(xué)在線檢測(cè)技術(shù)

    來源:    作者:    發(fā)布時(shí)間:2024-04-02    閱讀量:


    根據(jù)《華中科技大學(xué)科技成果轉(zhuǎn)化管理辦法》規(guī)定,對(duì)我校機(jī)械科學(xué)與工程學(xué)院余文勇老師團(tuán)隊(duì)的“復(fù)合材料表面缺陷光學(xué)在線檢測(cè)技術(shù)”成果轉(zhuǎn)化相關(guān)事項(xiàng)公示如下:

    一、成果名稱及簡介:

    該成果包含如下2項(xiàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán):

    (1)發(fā)明專利:一種多光譜色差在線檢測(cè)儀及其應(yīng)用

    發(fā)明人:余文勇,湯松巖,李文龍

    專利號(hào):ZL201710343225.0

    專利權(quán)人:華中科技大學(xué)

    簡介:本發(fā)明屬于光學(xué)檢測(cè)儀器領(lǐng)域,并公開了一種多光譜色差在線檢測(cè)儀,包括觀測(cè)球、移動(dòng)軸、光譜儀、數(shù)據(jù)處理模塊、控制模塊和位置檢測(cè)裝置,觀測(cè)球包括工業(yè)相機(jī)、積分球光源和光纖探頭,工業(yè)相機(jī)與數(shù)據(jù)處理模塊連接,光纖探頭與所述光譜儀連接;光譜儀具有外觸發(fā)模塊和數(shù)據(jù)傳輸模塊,外觸發(fā)模塊與所述控制模塊連接,數(shù)據(jù)傳輸模塊與數(shù)據(jù)處理模塊連接;控制模塊連接所述位置檢測(cè)裝置,以讀取待測(cè)物體的位置信息并對(duì)待測(cè)物體進(jìn)行定位,然后再通過外觸發(fā)模塊控制光譜儀進(jìn)行測(cè)量。本發(fā)明提高了在線顏色質(zhì)量檢測(cè)效率,通過對(duì)油墨用量的自動(dòng)控制有效降低了廢品率,可以極大提高產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)效率。

    (2)發(fā)明專利:一種復(fù)卷機(jī)自動(dòng)剔廢方法及設(shè)備

    發(fā)明人:余文勇,倪忠園,劉夢(mèng)飛

    專利號(hào):ZL201910510170.7

    專利權(quán)人:華中科技大學(xué)

    簡介:本發(fā)明屬于復(fù)卷配套設(shè)備相關(guān)領(lǐng)域,并公開了一種復(fù)卷機(jī)自動(dòng)剔廢設(shè)備,包括配備有光源的攝像單元、圖像采集卡、貼標(biāo)簽組件和掃描單元,其中攝像單元用于連續(xù)拍攝料盤整個(gè)幅面的圖像,然后將所拍攝的圖像實(shí)時(shí)輸送至圖像采集卡;圖像采集卡將圖像與基準(zhǔn)圖案相比較以判定料盤是否存在缺陷;貼標(biāo)簽組件用于對(duì)料盤分別貼上代表存在缺陷的第一標(biāo)簽或是代表合格產(chǎn)品的第二標(biāo)簽;掃描單元用于對(duì)料盤上所貼的標(biāo)簽進(jìn)行掃描以產(chǎn)生分流信號(hào),由此將存在缺陷的料盤分流至帶檢處。通過本發(fā)明,與現(xiàn)有技術(shù)可高響應(yīng)性、高精度地實(shí)現(xiàn)不合格卷盤的自動(dòng)化剔廢過程,同時(shí)可在不停機(jī)的情況下及時(shí)確定及剔除缺陷并重新返回至輸送線。。

    二、擬交易價(jià)格

    普通許可:105萬元。

    三、價(jià)格形成過程

    經(jīng)全體發(fā)明人同意,并與江蘇金恒新型包裝材料有限公司協(xié)商,雙方同意該成果以協(xié)議定價(jià)105萬元實(shí)施普通許可,期限5年。

    特此公示,公示期15日,自2024年4月2日起至2024年4月16日。如有異議,請(qǐng)于公示期內(nèi)以書面形式實(shí)名向我院反映。

    聯(lián)系人:譚老師,楊老師

    聯(lián)系電話:87558732

    科學(xué)技術(shù)發(fā)展院

    2024年4月2日

    ?版權(quán)所有:華中科技大學(xué)科學(xué)技術(shù)發(fā)展院

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