根據(jù)《華中科技大學科技成果轉(zhuǎn)化管理辦法》規(guī)定，對“數(shù)字圖像異常區(qū)域分割和訓練樣本獲取技術(shù)”成果轉(zhuǎn)化相關(guān)事項公示如下：
一、成果名稱及簡介：
該成果包含如下2項知識產(chǎn)權(quán)：
（1）發(fā)明專利：一種芯片連晶缺陷識別方法
發(fā)明人：賀松平，鐘富強，李斌，徐鑫，李達，吳文超，邱園紅，魏康
專利號：ZL201510104034.X
專利權(quán)人：華中科技大學
簡介：本發(fā)明公開了一種芯片連晶缺陷識別方法，該發(fā)明主要用于在芯片制造過程中識別含連晶缺陷的不合格芯片；包括三個步驟：步驟一，對采集到的芯片圖片進行模板匹配，定位出芯片的位置，根據(jù)芯片的位置，對圖片進行截取；步驟二，對截取獲得的圖片進行預處理，增大芯片基體與背景的差別；步驟三、對經(jīng)過預處理的圖片進行分割，獲取blob塊，對blob塊進行特征分析：首先以面積為基準判斷出是否含連晶缺陷；對面積正常的blob塊，獲取其blob塊最小外接矩形的中心點以及四邊中點的位置，以中心點以及四邊中點位置信息為基準識別blob塊對應的芯片是否含連晶缺陷；本發(fā)明提供的芯片連晶缺陷方法在的識別率上有很大的提高。
（2）專利申請權(quán)：一種用于工業(yè)大數(shù)據(jù)處理的訓練樣本生成方法
發(fā)明人：李斌，牛拴龍，唐立新，林惠，邱園紅，李言洲，牛通之，王博，郝雪桐，李西凱，魏富春
申請?zhí)枺?01811297153.1
申請人：華中科技大學
簡介：本發(fā)明屬于圖像處理領(lǐng)域，并具體公開了一種用于工業(yè)大數(shù)據(jù)處理的訓練樣本生成方法，包括：構(gòu)建各類工業(yè)圖像數(shù)據(jù)集，并根據(jù)各類工業(yè)圖像數(shù)據(jù)集中的數(shù)據(jù)量劃分出大樣本數(shù)據(jù)集與小樣本數(shù)據(jù)集；構(gòu)建工業(yè)圖像生成對抗網(wǎng)絡(luò)及優(yōu)化目標函數(shù)，基于優(yōu)化目標函數(shù)對工業(yè)圖像生成對抗網(wǎng)絡(luò)進行迭代訓練獲得小樣本生成參數(shù)模型；將大樣本數(shù)據(jù)集中的大樣本圖像輸入訓練獲得的小樣本生成參數(shù)模型中以生成小樣本圖像，以此完成訓練樣本的生成。本發(fā)明無需對工業(yè)圖像進行復雜的數(shù)字圖像處理操作，也無需對原始工業(yè)圖像進行各種變換，可以避免過多的人工干預，減少操作人員專業(yè)素養(yǎng)造成的工業(yè)圖像生成的誤差。
二、擬交易價格
普通許可：20萬元
三、價格形成過程
經(jīng)全體發(fā)明人同意，并與武漢智能裝備工業(yè)技術(shù)研究院有限公司協(xié)商，雙方同意該成果以協(xié)議定價20萬元實施普通許可，許可期限為自合同簽訂之日起十年。
特此公示，公示期15日，自2020年3月3日起至2020年3月17日。如有異議，請于公示期內(nèi)以書面形式實名向我辦反映。
聯(lián)系人：臧老師
聯(lián)系電話：027-87540925,15846590898
科技成果轉(zhuǎn)化辦公室
2020年3月2日
