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    公示

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    科技成果轉(zhuǎn)化現(xiàn)金獎勵信息公示〔2021〕20號——閃存特性測試方法及測試裝置

    來源:    作者:    發(fā)布時間:2021-06-25    閱讀量:


    根據(jù)《華中科技大學科技人員取得職務(wù)科技成果轉(zhuǎn)化現(xiàn)金獎勵信息公示辦法》,現(xiàn)對我校光學與電子信息學院“閃存特性測試方法及測試裝置”職務(wù)科技成果轉(zhuǎn)化現(xiàn)金獎勵相關(guān)信息公示如下:

    一、成果轉(zhuǎn)化信息

    成果名稱:閃存特性測試方法及測試裝置

    成果明細:

    1.發(fā)明專利:一種SSD內(nèi)實現(xiàn)的閃存壽命預測方法,201811514746;

    2.發(fā)明專利:一種閃存接口控制方法及裝置,201510918453;

    3.發(fā)明專利:一種閃存器件的軟信息提取方法,201510675525;

    4.發(fā)明專利:一種基于決策樹算法的閃存壽命預測方法及系統(tǒng),201811544548;

    5.發(fā)明申請:一種自適應的存儲設(shè)備損耗均衡方法及系統(tǒng),2019110279080;

    6.發(fā)明申請:一種基于壽命預測的存儲系統(tǒng)損耗均衡方法及裝置,2019109507245;

    7.發(fā)明申請:一種應用于損耗均衡的存儲單元質(zhì)量度量方法,2019108071065;

    8.發(fā)明申請:一種基于支持向量回歸的閃存壽命預測方法,2018115479017;

    9.發(fā)明申請:一種基于深度學習的閃存壽命預測方法、系統(tǒng)及計算機可讀存取介質(zhì),2018115454467;

    10.發(fā)明申請:一種基于錯誤模式的閃存壽命測試方法,2018105018315;

    11.發(fā)明申請:一種不同封裝閃存芯片在線測試和分類方法及測試系統(tǒng),2018105030340;

    12.發(fā)明申請:一種參數(shù)可配置的動態(tài)BCH糾錯方法及裝置,2018101251240;

    轉(zhuǎn)化方式:協(xié)議轉(zhuǎn)讓

    轉(zhuǎn)化收入:合同金額50萬元

    取得時間:2021年6月

    二、現(xiàn)金獎勵信息

    序號

    人員

    崗位職務(wù)

    貢獻情況

    現(xiàn)金獎勵金額(元)

    現(xiàn)金獎勵擬發(fā)放時間

    1

    劉政林

    教授

    成果完成人

    349895.00

    2021年7月

    現(xiàn)金獎勵總額:

    349895.00

    三、技術(shù)合同登記信息

    技術(shù)合同登記機構(gòu):華中科技大學技術(shù)合同登記站

    技術(shù)合同編號:2021420118000291

    技術(shù)合同項目名稱:閃存特性測試方法及測試裝置

    特此公示,公示期15個工作日,自2021年6月25日起至2021年7月16日。如有異議,請于公示期內(nèi)以書面形式實名向我院反映。

    聯(lián)系人:曹老師

    聯(lián)系電話:87558732

    科學技術(shù)發(fā)展院

    2021年6月25日

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