根據(jù)《華中科技大學(xué)科技成果轉(zhuǎn)化管理辦法》規(guī)定，對“閃存特性測試方法及測試裝置”成果轉(zhuǎn)化相關(guān)事項(xiàng)公示如下：
一、成果名稱及簡介：
該成果包含如下12項(xiàng)知識產(chǎn)權(quán)：
（1）發(fā)明專利：一種SSD內(nèi)實(shí)現(xiàn)的閃存壽命預(yù)測方法
發(fā)明人：劉政林，周新，魯趙駿，張海春
專利號：ZL201811514746.9
專利權(quán)人：華中科技大學(xué)
簡介：本發(fā)明通過實(shí)時(shí)采集每次SSD操作的數(shù)據(jù)作為預(yù)測和訓(xùn)練的輸入，更加貼合實(shí)際SSD上的閃存使用情況，得出的預(yù)測結(jié)果更加準(zhǔn)確。
（2）發(fā)明專利：一種閃存接口控制方法及裝置
發(fā)明人：霍文捷，劉政林，劉柏均
專利號：ZL201510918453.7
專利權(quán)人：華中科技大學(xué)
簡介：本發(fā)明公開了一種閃存接口控制方法，還提出了一種與上述方法對應(yīng)的裝置。通過以上軟硬件協(xié)同工作的方式，僅用簡單的硬件，實(shí)現(xiàn)了復(fù)雜多樣的閃存命令，顯著提高了相關(guān)設(shè)備的競爭力。
（3）發(fā)明專利：一種閃存器件的軟信息提取方法
發(fā)明人：霍文捷，劉政林，李妙心，張文卿
專利號：ZL201510675524.5
專利權(quán)人：華中科技大學(xué)
簡介：本發(fā)明所提出的方法不僅不依賴于閃存內(nèi)部的特殊命令，而且可以方便地集成進(jìn)自主閃存控制器中，與LDPC糾錯(cuò)模塊相配合，實(shí)現(xiàn)對先進(jìn)工藝閃存器件的高強(qiáng)度糾錯(cuò)，滿足固態(tài)存儲對先進(jìn)工藝閃存器件數(shù)據(jù)糾錯(cuò)的需求。
（4）專利申請權(quán)：一種自適應(yīng)的存儲設(shè)備損耗均衡方法及系統(tǒng)
發(fā)明人：劉政林，潘玉茜，李騰飛，林羽盛
申請?zhí)枺?01911027908.0
申請人：華中科技大學(xué)
簡介：本發(fā)明公開了一種自適應(yīng)的存儲裝置損耗均衡方法及裝置，屬于計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域，本發(fā)明充分考慮了存儲單元的擦寫次數(shù)，延長了存儲設(shè)備可靠工作的時(shí)間。
（5）專利申請權(quán)：一種基于壽命預(yù)測的存儲系統(tǒng)損耗均衡方法及裝置
發(fā)明人：劉政林，潘玉茜，王志強(qiáng)，齊明陽
申請?zhí)枺?01910950724.5
申請人：華中科技大學(xué)
簡介：本發(fā)明公開一種基于壽命預(yù)測的存儲系統(tǒng)損耗均衡方法及裝置；本發(fā)明真實(shí)反映存儲單元可使用狀態(tài)，提高存儲單元后期的利用率，延長存儲系統(tǒng)的使用壽命。
（6）專利申請權(quán)：一種應(yīng)用于損耗均衡的存儲單元質(zhì)量度量方法
發(fā)明人：劉政林，潘玉茜，陳卓，文思誠
申請?zhí)枺?01910807106.5
申請人：華中科技大學(xué)
簡介：本發(fā)明公開了一種應(yīng)用于損耗均衡的存儲單元質(zhì)量度量方法，能夠大幅提高質(zhì)量度量結(jié)果的準(zhǔn)確度，從而提高存儲系統(tǒng)損耗均衡執(zhí)行效率并延長存儲系統(tǒng)的使用壽命。
（7）專利申請權(quán)：一種基于支持向量回歸的閃存壽命預(yù)測方法
發(fā)明人：劉政林，陳卓，魯趙駿，張海春
申請?zhí)枺?01811547901.7
申請人：華中科技大學(xué)
簡介：本發(fā)明公開了一種基于支持向量回歸的閃存壽命預(yù)測方法，可以預(yù)測閃存的剩余使用壽命，讓閃存存儲設(shè)備使用者在使用設(shè)備期間了解存儲器的損耗狀態(tài)，避免因存儲器單元失效而造成的數(shù)據(jù)流失。
（8）發(fā)明專利：一種基于決策樹算法的閃存壽命預(yù)測方法及系統(tǒng)
發(fā)明人：劉政林，李騰飛，張浩明，潘玉茜，李四林
專利號：ZL201811544548.7
專利權(quán)人：武漢憶數(shù)存儲技術(shù)有限公司，華中科技大學(xué)
簡介：本發(fā)明涉及一種基于決策樹算法的閃存壽命預(yù)測方法及系統(tǒng)，由決策樹算法計(jì)算得到閃存壽命的預(yù)測值。本發(fā)明具有在相對短的時(shí)間內(nèi)能夠?qū)Υ笮蛿?shù)據(jù)源做出可行且效果良好的結(jié)果的優(yōu)點(diǎn)。
（9）專利申請權(quán)：一種基于深度學(xué)習(xí)的閃存壽命預(yù)測方法、系統(tǒng)及計(jì)算機(jī)可讀存取介質(zhì)
發(fā)明人：劉政林，王志強(qiáng)，潘玉茜，張浩明，李四林
申請?zhí)枺?01811545446.7
申請人：武漢憶數(shù)存儲技術(shù)有限公司，華中科技大學(xué)
簡介：本發(fā)明涉及一種基于深度學(xué)習(xí)的閃存壽命預(yù)測方法、系統(tǒng)及計(jì)算機(jī)可讀存取介質(zhì)。使用權(quán)值共享網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)減少了訓(xùn)練參數(shù)和計(jì)算復(fù)雜度，提高了泛化性能，循環(huán)卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)還能處理序列數(shù)據(jù)，更好的預(yù)測閃存壽命。
（10）專利申請權(quán)：一種基于錯(cuò)誤模式的閃存壽命測試方法
發(fā)明人：劉政林，李騰飛，李四林
申請?zhí)枺?01810501831.5
申請人：武漢憶數(shù)存儲技術(shù)有限公司，華中科技大學(xué)
簡介：本發(fā)明結(jié)合氧化層退化以及現(xiàn)有閃存芯片工藝制造特點(diǎn)，采用特定的基于錯(cuò)誤模式的高效閃存測試圖形，加速閃存芯片磨損、激發(fā)閃存芯片內(nèi)部單元固有的缺陷，從而實(shí)現(xiàn)快速的閃存檢測。
（11）專利申請權(quán)：一種不同封裝閃存芯片在線測試和分類方法及測試系統(tǒng)
發(fā)明人：劉政林，王志強(qiáng)，李四林
申請?zhí)枺?01810503034.0
申請人：武漢憶數(shù)存儲技術(shù)有限公司，華中科技大學(xué)
簡介：本發(fā)明針對不同類型的閃存芯片，采用相應(yīng)測試圖形(pattern)進(jìn)行測試，實(shí)現(xiàn)對不同封裝、不同型號的閃存芯片的測試；且通過對閃存芯片存儲塊進(jìn)行分級，根據(jù)存儲塊的分級實(shí)現(xiàn)對閃存芯片的分級，獲得更準(zhǔn)確，更貼合實(shí)際數(shù)據(jù)的閃存芯片分類方法。
（12）專利申請權(quán)：一種參數(shù)可配置的動態(tài)BCH糾錯(cuò)方法及裝置
發(fā)明人：劉政林，王宇，潘玉茜，李四林
申請?zhí)枺?01810125124.0
申請人：武漢憶數(shù)存儲技術(shù)有限公司，華中科技大學(xué)
簡介：本發(fā)明涉及一種參數(shù)可配置的動態(tài)BCH糾錯(cuò)方法及裝置，固件可根據(jù)不同Page具體的P/E周期數(shù)，結(jié)合其實(shí)際出錯(cuò)比例，在保證可靠性的前提下盡可能提高Flash讀寫性能。
二、擬交易價(jià)格
協(xié)議轉(zhuǎn)讓：50萬元
三、價(jià)格形成過程
學(xué)校委托武漢中康正資產(chǎn)評估有限公司對該項(xiàng)目進(jìn)行資產(chǎn)評估，評估價(jià)值為49.68萬元。該項(xiàng)目所包含12項(xiàng)知識產(chǎn)權(quán)中前7項(xiàng)為學(xué)校獨(dú)立所有；第8項(xiàng)至第12項(xiàng)為學(xué)校與武漢憶數(shù)存儲技術(shù)有限公司共有，其中學(xué)校所占權(quán)屬均為1/2。經(jīng)各方協(xié)商，同意以協(xié)議定價(jià)50萬元將學(xué)校所占權(quán)屬轉(zhuǎn)讓給置富科技(深圳)股份有限公司。
特此公示，公示期15日，自2021年4月2日起至2021年4月16日。如有異議，請于公示期內(nèi)以書面形式實(shí)名向我院反映。
聯(lián)系人：臧老師
聯(lián)系電話：87558732
科學(xué)技術(shù)發(fā)展院
2021年4月2日
