華中科技大學科技成果轉化公示
〔2018〕15號
根據《華中科技大學科技成果轉化管理辦法》（校科技〔2016〕11號）規(guī)定，對“OAM波天線陣列與陣列旋轉綜合孔徑輻射計誤差校正方法”成果轉化相關事項公示如下:
一、成果名稱及簡介：
該成果包含如下3項知識產權：
（1）發(fā)明專利：一種產生渦旋電磁波的單極子天線陣列及其饋電系統(tǒng)
發(fā)明人：桂良啟，周聰，張子肖，劉丹丹
專利號：ZL201610078089.2
專利權人：華中科技大學
簡介：本發(fā)明公開了一種產生渦旋電磁波的單極子天線陣列及其饋電系統(tǒng)，屬于無線通信技術領域。本發(fā)明包括介質基板、接地面、饋電系統(tǒng)和單極子天線陣列。本發(fā)明實現(xiàn)了一種體積小、易生產、具有平面結構、易集成的產生渦旋電磁波的天線。同時還設計了一套完整的饋電系統(tǒng)，解決了陣列天線的饋電問題，只需在輸入端口施加激勵即可得到所需的OAM模態(tài)，方便操作，使用簡單。
（2）發(fā)明專利：一種產生渦旋電波的縫隙天線陣列
發(fā)明人：劉丹丹，桂良啟，周聰
專利號：ZL201510353203.3
專利權人：華中科技大學
簡介：本發(fā)明公開了一種產生渦旋電波的縫隙天線，這種新型天線解決了以往渦旋電波天線陣列結構復雜、加工難度大的問題。本發(fā)明中的天線陣列為：在一塊圓形金屬板上開出N個縫隙，每個縫隙沿圓形金屬板中心向邊緣分布，N個縫隙繞圓形金屬板中心對稱，每個縫隙單元從中心位置饋電，N≥4。
（3）發(fā)明專利：基于陣列旋轉的綜合孔徑輻射計可見度相位誤差校正方法
發(fā)明人：李青俠，靳榕，沈尚宇，陳柯
專利號：ZL201210092674.X
專利權人：華中科技大學
簡介：本發(fā)明提供一種基于陣列旋轉的綜合孔徑輻射計可見度相位誤差校正方法，該方法通過180度天線陣列旋轉，使得被測場景的輻射信號分別被旋轉前后天線陣列接收；利用天線陣元相位誤差不隨陣列旋轉變化的特點，建立方程組，聯(lián)立求解得到天線陣元相位誤差，進而依據天線陣元相位誤差修正可見度。
二、擬交易價格
獨占許可：51萬
三、價格形成過程
經全體發(fā)明人同意，并與武漢華夢科技有限公司協(xié)商，雙方同意以51萬實施專利許可，許可期限為合同簽訂之日起至專利有效期止。
特此公示，公示期15日，自2018年9月17日起至2018年10月1日。如有異議，請于公示期內以書面形式實名向我辦反映。
聯(lián)系人：朱老師
聯(lián)系電話：027-87540925
科技成果轉化辦公室
2018年9月17日
